用于WLAN的高速ADC及DAC的测试(下)
新客网 XKER.COM 2007-01-14 来源： 收藏本文
3 DAC测试
12位高速DAC是电流型输出，而且满量程电流可以调节（可调节范围为2～20 MA）。通常情况下，处理电压输出比处理电流输出更为容易；所以我们通过使用测试系统自带的50 Ω终端连接芯片的模拟输出端，将芯片等效成电压型输出来进行测试。这样模拟输出的电压精度为：
芯片的最大采样频率为50MHz或更高（8位高速DAC芯片的最大采样频率达到100MHz或更高）。
正如前面提到的高速ADC测试，高速DAC测试也有两个难点需要解决。一个是如何获取和解析如此高精度的模拟电压信号，另一个是如何达到如此高的采样频率。
为了满足这两个测试要求，我们使用了WVFD （Wide Video Frequency Digitizer）测试硬件。 WVFG的具体性能指标见表4。
选择High Speed模式：
1) 1LSb＝0.35V/214＝21.36μV＜24.41μV
2)SAMpLE Frequency＝250MSpS(HiGH Speed Mode)＞100MSpS
由于测试的AC参数与高速ADC测试相同，所以测试流程也比较相似,见图9。
1)使用DAWG(DiGiTAL ARbiTRARy WAVEFoRM GENERAToR)生成正弦数字码信号输入到芯片；
2)芯片将这些数字码信号转换，输出正弦的模拟信号；
3)使用WVFD获取这些芯片转换输出的模拟信号，并将其转换为数字码；
4)对数字码进行分析得到芯片的基波、高次谐波及噪声（利用FFT变换）；
5)计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD。
获取了芯片转换输出的模拟信号之后，就可以通过FFT变换得到基波、高次谐波及噪声的数据。计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD也样 变得十分方便了。
芯片实际测试数据见表5、6及图10、11。
4 混合信号测试小结
ADVANTEST已经推出各系列的SoC测试系统：T6500和T6600能对应混合信号测试和数字信号测试，见表7。
T6500和T6600系列具备ADC/DAC测试能力。ADVANTEST对在全球居领导地位的半导体生产商有着长期的测试应用支持经验，当然也包括对知名的混合信号芯片设计及生产厂商的长期支持。为了更好地进行混合信号芯片的测试，我们将继续努力，致力于提供 GET Solution (Globally Enabled total Solution) 的服务。
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